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专利名称: 一种电子显微镜原位力学性能测试芯片
专利类别: 实用新型
申请号: 201920925743.8
申请日期: 20190619
专利号: 201920925743.8
第一发明人: 邰凯平、谭军、毛鹏燕、赵洋、康斯清
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期: 20200515
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
状态:
   

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